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随着我国光通信产业的发展,多芯高密度连接器(如MPO、MT)、FA光纤阵列核心间距以及VG V槽基板的间距对尺寸检测提出更高要求。传统测量方式效率低、精度不足,而本设备可自动测量并重复精度小于等于0.1μm,有效解决这一难题。该设备提供两个型号:YGN-590-FAVG和YGN-590-MT,通过使用我们的设备进行检测,可以显著提高光纤连接的精度。应用领域广泛,包括光通信行业和半导体行业。
产品特点:
融合图像识别与激光干涉,打造双重测量引擎.
0.001μm测量分辨率,满足微米级检测需求
3.支持多种光通信组件标准,应用范围广
4.三轴精密移动平台,微小部件轻松应对
5.高分辨率工业级CMOS,成像清晰稳定
6.模块化设计与人性化,软件界面,便于操作与维护
设备型号:YGN-590-MT ;YGN-590-FAVG
测试对象: MT ;MPO;MT fiber assy; FA(光纤阵列)Fiber array;VG(V 槽基板);V groove
测试分辨率:0.001 微米
重复性测试:3西格玛≤0.1微米
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日本柳下 多芯连接器 Core pitch 间距高速测试系统